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unit-testing - Flutter 测试：InputChip 点击删除

问题描述

我在我的应用程序中使用InputChips。

InputChip(
  key: Key(label.id),
  label: Text(label.name),
  onDeleted: () => deleteChip(),
),

我现在想创建单元测试来测试删除功能。不幸的是，我发现在单元测试中无法按下芯片的删除图标。有了await tester.tap(find.byKey(Key('1')));它就可以找到芯片。我现在如何定义我要单击芯片上的删除图标？

标签： unit-testingflutterdart

解决方案

您的取景器正在寻找并点击它InputChip本身，而不是芯片上的“X”。

您的取景器应如下所示：

find.descendant(
      of: find.byKey(Key(label.id)),
      matching: find.byIcon(Icons.cancel),
    );

InputChip这说“找到谁是的后代cancel Icon。然后你可以点击它，如果你愿意:)

当您缺少点击目标，或者不确定测试中发生了什么时，请在运行后查看控制台debugDumpApp();

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